200系列膜厚計（涂鍍層測厚儀）

簡要描(miao)述：本儀器采用了磁(ci)(ci)性(xing)和渦流(liu)兩種(zhong)測厚方法(fa)，可無損的(de)(de)測量磁(ci)(ci)性(xing)金屬(shu)基(ji)體（如(ru)鐵、合金和硬磁(ci)(ci)性(xing)鋼等(deng)）上非磁(ci)(ci)性(xing)覆層(ceng)的(de)(de)厚度（如(ru)銅、鋁、鉻、琺瑯、橡(xiang)膠(jiao)(jiao)、油(you)漆等(deng)）及非磁(ci)(ci)性(xing)金屬(shu)基(ji)體（如(ru)銅、鋁、鋅、錫等(deng)）上的(de)(de)非導電覆層(ceng)的(de)(de)厚度（如(ru)琺瑯、橡(xiang)膠(jiao)(jiao)、油(you)漆、塑(su)料等(deng)）。

產品型號：KETT LE-200
廠商(shang)性質：代理商
更(geng)新時(shi)間：2023-01-17
訪(fang) 問(wen) 量(liang)：1645

產品咨詢聯系我們

產品分類

Product Category

厚度儀

超聲波測厚儀涂層測厚儀查看全部產品

詳細介紹

本儀器采(cai)用了磁性(xing)和(he)渦流兩(liang)種測厚方法，可無損的測量(liang)磁性(xing)金屬(shu)基體(ti)（如(ru)(ru)鐵、合金和(he)硬磁性(xing)鋼等(deng)）上(shang)非(fei)磁性(xing)覆層的厚度（如(ru)(ru)銅、鋁(lv)、鉻(ge)、琺瑯、橡膠(jiao)、油漆(qi)等(deng)）及非(fei)磁性(xing)金屬(shu)基體(ti)（如(ru)(ru)銅、鋁(lv)、鋅、錫等(deng)）上(shang)的非(fei)導電(dian)覆層的厚度（如(ru)(ru)琺瑯、橡膠(jiao)、油漆(qi)、塑料等(deng)）。

規格型號	LE-200J	LH-200J	LZ-200J
測定對象	磁性金屬上非磁性涂鍍(du)層	非磁性金屬上絕緣層	磁(ci)性(xing)金屬上(shang)非磁(ci)性(xing)涂鍍層(ceng)非磁(ci)性(xing)金屬上(shang)絕緣層(ceng)
測定范圍	0～1500um 或0～60.0mils	0～800um 或0～32.0mils	0～1500um 或0～60.0mils
測定精度	<50um±1um , >50um±2%
分辨率	<100um 0.1um , >100um 1um
功能統計	可設定上/下限數值，可分批統計大值、小值、平均值、標準差。數據可存儲，可連接電腦，內置(zhi)打(da)印機、即時(shi)打(da)印
計量單位	公制、英制可自由切換
顯示方式	LCD液晶屏
操作面板	密封防水多功能數字鍵盤
隨機附件	基體/校正標準片/電池/皮套/說明書/穩壓電源/打印紙
電源	DV6V 5#堿性電池×6個（打印機另需4個），可接穩壓電源
體積	175mm（W）×245（mmD）×31mm（H）
重量	1100g